光学轴类测量仪-轴类测量仪-茂鑫供
业纳的 Opticline 产品系列测量站非常适用于满足光学轴测量的要求。这些系统可用于制造其本身，或用于测量室中。即使在工业环境的恶劣生产区域中，这些系统也可以毫无问题地运行。
SPC 测量站配备用于统计过程控制 (SPC) 的各种接口。可通过这些接口非常***地监测制造过程，并在必要情况下快速干预。这可以确保您产出的工件始终具有***。这些测量系统的操作十分简单，测量结果不依赖于操作员，并且可在需要时使用分析功能提供易于理解的测量结果。
C 系列 Opticline 轴测量系统具有不同型号， 因此能够以一贯的高质量水平处理范围***的轴类和测量任务。
系统亮点
• 紧凑型测量系统，可在生产环境中进行操作员控制的检查
• 支持对长度达 900 毫米和直径达 140 毫米的工件进行多级缩放
• 评估软件易于使用、结构清晰，可简单地定义个性化的测试计划
• 可根据客户的特定应用进行调整
产品变型和可选件
• 触觉探测系统，用于测量其他长度和形状测试特性
• 高精密度的主轴箱，可提供更高的形状量规重复性和重现性，以及更好的旋转测量
• 集成的评估和测量计算机
• 卷闸可防止负面的环境影响
• 气动夹紧解决方案，提供更大的灵活性和，适合更多种类的工件
• 台架可用于以工作高度实际装载和提供额外的存储空间
• 夹紧装置、条形码阅读器和工件温度检测系统等配件
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