岱珂机电可为客户提供超声检测设备、检测标准及检测方案定制服务。已形成YTS100、DXS200、GSS300及ZMS400等系列机型，产品通过CE、CSA认证，可满足低压电器焊接质量检测、金刚石缺陷和厚度测量、水冷板散热器检测、半导体封测等行业需求。DXS200大构件超声扫描显微镜大尺寸、高可靠。产品参数：整机尺寸：1.8m×1.3m×1.55m；最大扫描范围：900mm×600mm×250mm；典型扫描耗时：≤40s（区域10mmX10mm，上海纳米级测量仪器规格型号，上海纳米级测量仪器规格型号，分辨率50um)；比较大扫描速度：500mm/s；运动台定位精度：X/Y向±1um，Z向±10um，上海纳米级测量仪器规格型号。岱珂机电对精密测量的热情，驱使我们彻底改变纳米级运动和分析。上海纳米级测量仪器规格型号
2020年，注定是不平凡的一年，突如其来的******对我们的经济和社会都造成了严重的影响。尽管如此，我国科学家仍以实验室为战场，争分夺秒，奋力拼搏，取得了一个又一个新突破、新发现。
2020 中国光学领域**社会影响力事件（Light10）评选活动的推出就是为了追寻中国光学领域的那些高“光”时刻，那些让我们感动、自豪、永远铭记的时刻。
2020 中国光学领域**社会影响力事件（Light10）
入围榜单（说明：排名不分先后，按原报道发布日期排序。）
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我国自主研发成功商用毫米波相控阵芯片
如何让消费者享受价格低、速度快的通信解决方案？1月，网络通信与安全紫金山实验室宣布：我国自主可控、成本**的毫米波相控阵芯片问世，它速度快、覆盖广，一脚踢开了毫米波通信技术商用的“绊脚石”。
司逖测量技术（上海）有限公司为您提供光谱共焦位移传感器，在线精密测量方案。司逖测量技术（上海）有限公司为客户提供颠覆传统激光三角测距法，全新测量原理的光谱共焦传感器，STIL来自法国的光谱共焦发明者，3D尺寸精密测量方案提供者。 上海晶圆切割槽测量测量仪器公司系列产品亚微米级超高精度——比较高测量精度可达14纳米。
相对人类视觉，视觉检测虽然在智能化和彩色识别能力方面还存在差距，在灰度分辨力、空间分辨力、速度、感光范围、环境要求以及观测精度等方面都存在 优势，尤其是在有害环境中或者重复性工作环境下，可节省大量人力， 提高产品检测效率。 由于视觉检测具有诸多优势，因此可应用场景 。目前视觉检测比较成熟的应用主要集中在定位、尺寸测量、OCR/OCV、特征有无等领域。 典型的是半导体行业，从上游晶圆加工制造的分类切割，到末端电路板印刷、贴片，都依赖于高精度的视觉测量对于运动部件的引导和定位，半导体制造行业对于视觉检测的需求占全行业市场需求的40%-50%。
交流电和直流电的相互转换对于电器的使用十分重要 ，是对电器的必要保护。这就要用到等电源转换装置。碳化硅击穿电压强度高 ，禁带宽度宽，热导性高，因此SiC半导体器件十分适合应用在功率密度和开关频率高的场合，电源装换装置就是其中之一。碳化硅元件在高温、高压、高频的又一表现使得现在被广要使用到深井钻探，发电装置中的逆变器，电气混动汽车的能量转化器，轻轨列车牵引动力转换等领域。由于SiC本身的优势以及现阶段行业对于轻量化、高转换效率的半导体材料需要，SiC将会取代Si，成为应用zui广要的半导体材料。上海岱珂机电激光位移传感器DK-2100系列产品可与PLC通信，可直接控制电机。
上海岱珂机电激光位移传感器：此系列产品性能指标达到国际前列水平，测量重复精确度达到0.5um，可实现对国外同类产品的替代。以高效、低成本、模块化的方式为广大客户提供机器视觉的相关解决方案。为集成商提供的全系列一体化3D智能激光视觉传感器产品已经在消费类电子制造、汽车制造、新能源制造、钣金加工等领域广泛应用。上海岱珂机电激光位移传感器DK-2600系列产品：•型号***，Z向测量范围从5mm至80mm；•2500Hz@全画幅，比较大56000Hz的采集速率；•满足高速产线场景需求；•万兆以太网(兼容千兆以太网)；•支持Modbus等输出测量数据；•与PLC通信。上海岱珂5轴3D测量机： 搭配线激光或线光谱实现3D扫描测量，适用3C样品通用扫描(治具和标定块不同)。上海纳米级测量仪器规格型号
岱珂传感器是全新测量原理的光谱共焦传感器。上海纳米级测量仪器规格型号
岱珂辅料贴合设备设备主要是对手机终端项目进行各种辅料贴合，批量自动贴合，保证生产效率、良率以及生产稳定性。测试行程满足5-7寸手机结构件行程（143.5mm*69.9*7.6mm~ 179*103.68*8.6mm）；兼容各种颜色（从浅色到深色）产品贴合生产；使用双飞达进行上料，单只流2pcs辅料贴合生产。料贴合设备，包括上料结构、下料结构、循环旋转的转盘以及将辅料带贴在盖板上的贴合结构；通过设备实现盖板与辅料带的贴合，全程自动化，提高了贴合的效率，减少人工成本。上海纳米级测量仪器规格型号
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