深圳光谱共焦位移传感器怎么用 来电咨询 岱珂机电供应

STIL光学笔介绍 

ENDO系列光学笔

兼容所有STIL传感器

直径非常小：4mm,6mm和8mm

减少工作空间的需要

距离模式分辨率：始于20nm

EVEREST系列光学笔（K1/K2）

K1(2017年）

测量范围：1000 μm

工作距离：18.5mm

zui大采样斜率：±44°

精度（zui大线性误差）：<100nm

轴向分辨率：<50nm

光斑尺寸（直径）：5μm

数值孔径（N.A.）：0.7

zui小厚度测量：<50μm

长度：260.5mm

直径：82mm

重量：1400g

K2(2019年）

测量范围：2000 μm

工作距离：19.2mm

zui大采样斜率：±42°

精度（zui大线性误差）：150nm

横向分辨率：3.8μm

能量收集：51

光斑尺寸（直径）：7μm

数值孔径（N，深圳光谱共焦位移传感器怎么用，深圳光谱共焦位移传感器怎么用，深圳光谱共焦位移传感器怎么用.A.）：0.67

zui小可测厚度：100μm

长度：243.4mm

直径：82mm

重量：1250g

设备测量涂层厚度时与部件无任何接触，激光和红外传感器可分析2~50厘米工作距离的涂层。深圳光谱共焦位移传感器怎么用

精密制造产品，内部一般由很多细小复杂的零件组成。以手表来举例，其制造流程和工艺虽比不上汽车、飞机工业的复杂程度，但其内部 小小超过100多个细小复杂的零件组装在表盘内，稍微出现组装疏忽将会导致手表不能正常运，产品品质不能经得起考验。 手表质量的好坏和工件工艺及组装能力有很大的关系。组装好一款手表的工艺过程非常复杂，需要经过三个专业技术将机芯，表盘，内部精密齿轮完美无瑕地组装一起，才能发挥出 长的使用是寿命。机械手表的制造工艺复杂程度可见一斑。 在工件制作、使用和组装的过程中，光谱共焦传感器可以检测细小复杂的微部件。STIL光谱共焦技术，基于专有的创新光学原理，从概念设计的第一步到 终校准，一切都在内部完成，除了分包的镜片，机械零件和电子板制造。上海测量传感器法国STIL公司开发了从1.8mm到45mm的线长不同测量行程的线光谱共焦传感器这一系列产品。

针对市场零件生产越来越趋于精密化，而用人成本不断增高，人工效率及稳定性也不高，误检、漏检比率高。在目前的市场，推出基于机器视觉检测的方法，检测原理是通过CCD工业相机拍照，软件进行图像分析，这种方法 、高速、非接触的检测。例如螺丝螺母对于品质要求极为严格，而且，螺丝螺母的使用量一般都很大，一般都是大批量生产，这时外观检测依靠人工是完全应付不过来的，所以只能采用视觉检测设备来进行品质检测。实现的过程如下，采集图像→图像预处理→轮廓匹配→位置补正→螺纹检测→数据判断→数值显示。

机器视觉检测比较大应用领域：电子及半导体领域，高性能、精密的专业设备制造领域中机器视觉检测的应用十分 ，比较典型的是国际范围内 早带动整个机器视觉检测行业崛起的半导体行业，从上游晶圆加工制造的分类切割，到末端电路板印刷、贴片，都依赖于高精度的视觉测量对于运动部件的引导和定位。在国际市场上，半导体制造行业对于机器视觉检测的需求占全行业市场需求的40%-50%。 在电子制造领域，小到电容、连接器等元器件，大到手机键盘、PC主板、硬盘，在电子制造行业链条的各个环节，几乎都能看到机器视觉检测系统的身影。机器视觉检测按应用功能划分，主要是四个方面：测量、检测、识别、定位。在检测环节中，3C自动化设备应用比较高，有70%的机器视觉检测单位应用在该环节，在实际应用中，机器视觉检测检测系统可以快速检测排线的顺序是误，电子元器件是否错装漏装，接插件及电池尺寸是否合规等。我们对精密测量的热情，驱使我们彻底改变纳米级运动和分析。

光谱共焦位移传感器——MC2线阵视觉检测系统

2014年产品，具备所有光谱共焦显微镜的优势。

有4种光学头型号供选择：Deepview,Microview,NanoView,Wireview。

优势：

v 无需外接光源照明，光谱共焦传感器的光源即为检测所需的同轴光源；

v 环境光线的变化不影响成像效果，适应性强；

v 适应所有的物体表面，无论是漫反射表面，镜面（高光面）或者透明物体表面；

v 高达80KHz的扫描速度，并可实现非常低的像素尺寸(zui小像素可达0.2×0.2μm2)；

v zui高可至2.6mm的高景深，在景深范围内的任何一个位置都是完美聚焦，成像更为清晰且无需进行Z轴对焦。

建立“共建共享”的价值分配准则。广州光谱共焦位移传感器有哪些品牌

光谱共焦传感器行业领先——司逖测量技术（上海）有限公司。深圳光谱共焦位移传感器怎么用

光谱共焦位移传感器——点传感器

CCS Prima、CCS Prima+

zui流行的光谱共焦传感器、3D玻璃瑕疵检测仪器和精密结构件检测仪器。

测量频率：高达2K HZ CCD光电探测器，具有非常高的信噪比2通道和4通道，多通道型号可供选择（传输时间<400ms） 具备CCS系列控制器的所有优势。

属于STIL光谱共焦传感器的点传感器。点传感器测量点，位于光轴上的点的高度（Z坐标）。也可测量透明样品的厚度。包含控制器、光学笔和光纤线。光学笔可以在同一控制器上互换。

技术特点

CCS PRIMA是STIL光谱共焦传感器产品体系中一款 高  分辨率“点”式传感器。它基于光谱共焦成像、彩色光谱共焦成像（Chromatic Confocal Imaging, 简称CCI）原理，此原理基于2个原则：

1. 光谱共焦成像

2. 光轴的彩色编码，故光谱共焦传感器又可叫做彩色共焦传感器

深圳光谱共焦位移传感器怎么用

上海岱珂机电设备有限公司致力于仪器仪表，是一家生产型的公司。公司业务涵盖光谱共焦位移传感器，面白光干涉仪，激光干涉位移传感器，纳米级测量仪器等，价格合理，品质有保证。公司从事仪器仪表多年，有着创新的设计、强大的技术，还有一批独立的专业化的队伍，确保为客户提供良好的产品及服务。岱珂机电立足于全国市场，依托强大的研发实力，融合前沿的技术理念，飞快响应客户的变化需求。