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光谱共焦位移传感器——线传感器

MP***M线扫描传感器

MP***M控制器，是市场上首台“线”光谱共聚焦传感器。

包含了180个**的光谱共聚焦通道。 每个通道测量样品表面上的单个点，并包含自己的点源，广州官方授权经销传感器技术指导，zhen孔和光谱仪。  

在MP***M中，控制器和光学头通过两个光纤束连接。

首束将控制器的内部光源连接到镜头的入射面; 180束光纤电缆的前列成为180个通道的点源，广州官方授权经销传感器技术指导，广州官方授权经销传感器技术指导。

第二束连接光谱仪的输出平面; 180根光纤电缆的前列实现了180个通道的zhen孔。

MP***M控制器——技术特点

l 市场上首台“线”光谱共聚焦传感器 

l 投射到样品表面为一条线，由180个离散点组成，每点对应一条**测量通道 

l 比较大线率是2000 lines/秒

l 高工作量（360000点/秒）

l 由千兆以太网进行数据传输

l gao分辨率，高精度

l 可测量任何材料

l 对外部环境光线不敏感

l 兼容所有光学头

l 同步方式：主和从

l 借助DLL工具，易于管理

产品光斑尺寸低至150微米，令人难以置信的空间精度。广州官方授权经销传感器技术指导

3D测量系统MICROMESURE2

配置“点”传感器的MICROMESURE 2系统

MICROMESURE 2系统，配置CCS-PRIMA,STIL-DUO传感器，是非接触式表面测量的理想工具，包含3D粗糙度，形状测量和3D微观形貌。

MICROMESURE 2系统，充分利用了STIL非接触式传感器在各种应用和领域的***性能。

与配套的控制&采集硬件和软件一起交付，MICROMESURE 2系统是一套整机，启动后立刻执行（指令）。

借助光谱共焦传感器

●非接触式尺寸测量

●纳米和微米分辨

●白光传感器（***点，大测量范围）

●同轴测量（无阴影）

●镜面上的高局部斜率（反射式）

●对环境光不敏感

●可测量金属，玻璃，半导体，陶瓷和其他更多材料

●透明物体的厚度测量方式

●具有大测量范围能力（20μm-24mm）

借助高质量的扫描系统

●Z轴0.1μm编码器（系列产品）

●X&Y轴0.1μm编码器（可选择）

●低震动

●正交性和平面度校正

●透明的作业空间，避免气流震荡 广州高精度光谱共焦位移传感器怎么用法国STIL公司开发了从1.8mm到45mm的线长不同测量行程的线光谱共焦传感器这一系列产品。

随着社会发展，越来越多行业对微观物体表面形貌观测的要求也越来越高，与生命健康有着 紧密关系的医学行业就是其中之一。但由于普通显微镜的固有特性，只有聚焦区域内的图像成像清晰，非聚焦区域内侧图像成像模糊。因此普通显微镜无法实现在同一景深中对物体表面形貌的全聚焦，更不能重构其三维结构。 但是，利用STIL的光谱共焦技术，可以实现显微物体三维形貌的重构。 太阳能路灯节能环保，无污染、无危害，所以它越来越受欢迎，走入我们的视线，慢慢占据了市场。现如今太阳能路灯的电池层出不穷，除了常规的铅酸电池和胶体电池以外，锂电池更是轻易得到了人们的认可。锂电池无污染、寿命长、温度适应能力强、更智能、更安全的优点得到了人们的青睐。

机器视觉相机（“眼球”）的目的是将通过镜头投影到传感器的图像传送到能够储存、分析和（或者）显示的机器设备上。按照芯片类型可以分为CCD相机、CMOS相机。图像采集单元中 重要的元件是图像采集卡，它是图像采集部分和图像处理部分的接口。在完成图像采集和处理工作之后，需要将图像处理的结果输出，并作出与结果匹配的动作，如剔废、报警灯，并通过人机界面显示生产信息。算法可谓是机器视觉的 了，企业竞争力也主要体现在算法上．好的算法，运行速度快，检测精度高，在市场上自然具有较强的竞争力．因此，在企业中，都在 算法上下功夫，形成自己的竞争力。法国STIL光谱共焦传感器成了众多客户不可或缺的选择。

测量涂层厚度时与部件无任何接触。激光和红外传感器可分析2至50厘米距离的涂层。这意味着可以在工业涂层环境中测量部件，即使它们位于移动产线上、在高温环境中，甚至易碎或潮湿环境中。 由于激光束产生的热量极少，因此测量过程中涂层和部件都不会被损坏或改变。 因此，对于那些迄今已有的方法会破坏测试样品的工业运用，它也可以系统地测量每个部件。 测量通常不到一秒钟，具有高度重复性。这样可以控制高达100％的涂层部件，严格遵循涂层工艺性能并实时反应以保持比较好的状态。光谱共焦传感器行业**——司逖测量技术（上海）有限公司。广州亚微米级光谱共焦位移传感器价格比较

我们对精密测量的热情，驱使我们彻底改变纳米级运动和分析。广州官方授权经销传感器技术指导

        共聚焦光谱成像技术以极高的分辨率提供可靠、精确和可再现的尺寸测量。什么是光谱共焦干涉仪？非接触式轮廓测量技术中的测量精度，通常受机械振动和微扫描台位置不准确的限制。为不再受此类环境干扰，STIL开发了对振动不敏感的全新干涉测量法。采用这种新型干涉仪系统，干涉仪显微镜的精度可达亚纳米级。光谱共焦干涉测量原理STIL干涉测量法基于白光干涉图（SAWLI）的光谱分析。它包括分析在光谱仪上观察到的干扰信号，以便测量参比板和样品之间的气隙厚度。成熟系统的**性在于将参考板固定在检测目标上。由于参考板和样品固定在一起，机械振动不会影响测量结果。此外，该传感器可用于测量太薄而不允许使用光谱共焦技术的透明薄膜。可测厚度为μm。 广州官方授权经销传感器技术指导

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